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東莞市眾升儀器有限公司
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產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
數(shù)字式薄層電阻測(cè)試儀，四探針薄膜電阻測(cè)試儀
ST2253 型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量裝置，它可以測(cè)量半導(dǎo)體材料的電阻率，測(cè)量擴(kuò)散層的薄層電阻（亦稱方阻）。換上特制的四探針測(cè)試夾具，還可以對(duì)金屬導(dǎo)體的低、中值電阻進(jìn)行測(cè)量。
詳情介紹：
一、數(shù)字式薄層電阻測(cè)試儀，四探針薄膜電阻測(cè)試儀主要特點(diǎn)：
二、基本技術(shù)參數(shù)
儀器由主機(jī)、測(cè)試探頭（可選配測(cè)試臺(tái)）等部分組成，測(cè)試結(jié)果由主機(jī)數(shù)碼管直接顯示。也可連接PC機(jī)由配套軟件在PC機(jī)上操作，其數(shù)據(jù)可由軟件顯示、分析、保存和打印！
主機(jī)主要由精密恒流源，高分辨率 ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成，自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程。測(cè)試探頭采用寶石導(dǎo)向軸套和高耐磨碳化鎢探針制成，故定位準(zhǔn)確、游移率小、壽命長(zhǎng)。儀器具有測(cè)量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測(cè)量簡(jiǎn)便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能的測(cè)試。特別適用于要求快速測(cè)量中低電阻率的場(chǎng)合。
二、基本技術(shù)參數(shù)
2.1測(cè)量范圍
電阻率：10-4～105Ω-cm
方塊電阻：10-3～106Ω/□
電阻：10-4～105Ω
2.2可測(cè)半導(dǎo)體材料尺寸
直 徑： Φ15～100mm, 長(zhǎng)（或高）度： ≤400mm
2.3測(cè)量方位:
軸向、徑向均可
2.4. 4 1/2 位數(shù)字電壓表：
⑴量程： 200mV
⑵誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字
2.5數(shù)控恒流源
⑴電流輸出：直流電流 0～100mA 連續(xù)可調(diào)，由交流電源供電。
⑵量程：1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA
⑶誤差：±0.5%讀數(shù)±2 字
2.6四探針測(cè)試探頭
(1)探針間距 1mm
(2)探針壓力: 0～2kg 可調(diào),*大壓力約 2kg
(3)探針：碳化鎢，Φ0.5mm
2.7.電源
輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功耗：<20W
外形尺寸：主機(jī) 260mm（長(zhǎng)）×210 mm（寬）×125mm（高）